半导体参数测量

半导体材料测试平台包括：

针对晶元级半导体材料或半导体器件，搭配半导体参数分析仪，用于测试分离器件、材料的三大特性：

• 1、直流特性，如IV曲线、IT曲线、VT曲线、RT曲线等；
• 2、电容电压特性CV曲线（CVU）；
• 3、脉冲特性测试(PMU)，支持超高速脉冲测试。支持以上特性的多通道同步测试。

半导体工艺测试平台包括：

针对大规模测试，如晶元上多点测试，复杂系统的自动化测试，搭配自动化半导体参数测试系统，支持各类晶元Wafer和MEMS的自动化、半自动化参数测试。广泛用于晶元的失效分析测试（FA）,质量控制测试（QA），可靠性分析测试（RA）。

芯片设计测试平台包括：

针对高速串行芯片设计，提供完整的发送端测试解决方案，配备高带宽实时示波器、各种探头、一致性测试夹具、一致性测试软件等，支持的标准覆盖各类常用标准，包括：PCIE/DDR/USB/ETH等等。

芯片验证测试平台包括：

针对高速串行芯片设计，提供完整的接收端容限测试解决方案，配备高速误码率分析仪，及一致性测试夹具、一致性测试软件等，支持的标准覆盖各类常用标准。