Our Solution
解决方案
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半导体参数测量为客户提供从晶元到系统的专业半导体测试方案，并提供搭配其他测试设备。针对高功率半导体材料或半导体器件，搭配高功率晶体管参数曲线图示仪详情 -
光电耦合测量探针台选型指南：探针台体尺寸，显微观察倍率，探针座和夹具，屏蔽和隔振。光电集成方案：光源种类，光电结合方式...详情 -
真空低温测量开循环/闭循环制冷和温度范围可选；低倍体视/高倍金相显微观察可选；可配1~6个微定位波纹臂，测试夹具有直流、开尔文...详情 -
变温环境测量高低温探针台选型指南，低温制冷原理，HTM系列密闭高低温探针台...详情 -
射频/微波测量配套仪表：矢量网络分析仪、频谱仪、信号发生器、示波器、锁相放大器、数字源表、半导体参数分析仪等。详情 -
高压/大电流测量高压/大电流测量用于对各种电器产品、电气元件、绝缘材料等进行规定电压下的绝缘强度试验，以考核产品的绝缘水平...详情